由IEEE 电子器件分会南京ED/SSC支部、IEEE 纳米技术委员会南京支部以及电子科学与工程学院共同主办的“IEEE WIMNACT 43-Nangjing/IEEE EDS DISTINGUISHED LECTURE TALKS”学术报告会于11月28日下午在榴园宾馆多功能厅召开。本次学术报告会由IEEE电子器件分会的三位杰出学者主讲，他们分别是台湾国立交通大学庄绍劲教授、印度NanoRel Technical Consultants 的Dr. MK Radhakrsihnan以及北京大学微电子学院黄如教授。学术报告会由电子科学与工程学院副院长孙立涛教授主持，学院相关研究方向的老师及部分研究生参加了报告会。
随着集成电路工艺的不断进步，CMOS器件朝着越来越小的尺寸发展，一些器件尺寸已达到纳米尺度。随之而来产生的各种随机因素对纳米器件性能及可靠性的影响不能再被忽略。三位学者分别就随机掺杂抖动和随机陷阱抖动对三栅CMOS器件阈值电压的影响、纳米器件中电流传导机制、微细结构损坏以及界面相互作用等对器件可靠性的影响以及未来IC技术所面临的挑战与发展趋势等问题分别进行了详细介绍和探讨。报告会共计进行了三个多小时。
报告会后，三位专家与师生们进行了热烈的讨论和交流，并且就所提出的问题进行了详细的解答。
